固态硬盘可靠性解决方案

面临的问题：
作为数据的载体，固态硬盘的可靠性尤其重要，一旦发生故障可能会导致用户数据的丢失或者系统的崩溃。
固态硬盘的可靠性是综合因素共同作用的结果，如：ECC的强弱，垃圾回收机制，写放大系数的控制，电路设计是否具备过压过流保护，是否具备断电保护机制，是否使用高可靠性Nand Flash及相应规格的电子元器件等等。
对于用户而言，判断固态硬盘可靠性最困难的是：即使一款可靠性并不好的固态硬盘，短期内也很难发现问题，通常只能在使用过程中被动接受丢失数据的现实。
例如：市场上大量低价固态硬盘使用的是good die的Nand Flash甚至是二手的拆机片，这些芯片原始误码率本身就很高，可靠性非常低，主控厂商在设计ECC时往往是按照原装Nand Flash规格进行设计，因此对于误码率非常高的Nand Flash来说，主控ECC很难完成超过设计指标的纠错，硬盘出现故障在所难免，但这种状况通常会发生在用户使用一段时间之后，三个月，半年甚至一年以上（根据客户使用读取为主还是写入为主的场景有较大差异）

原装芯片误码率(10-6.079) VS非原装芯片误码率（10-3.502）

因此，对于只是在常温下条件下测试的产品，很难保障产品在特殊条件下的可靠性。

AXD安信达的解决方案：
AXD安信达只采用真正工业级主控芯片、工业级电子元器件及工业级Nand Flash最为重要，AXD安信达在总结3000多家全球各个行业应用的基础上自主开发工业级固态硬盘，可以确保在不同的环境下，都可以稳定的工作。

AXD对Nand Flash在上机贴片之前会全部用NFA100（闪存芯片测试仪）进行分析和测试，筛选出P/E Cycle最长的，误码率最低的Nand Flash用于固态硬盘产品，利用AXD的闪存芯片分析仪进行筛选，原装的芯片通常最高只有80%的合格率。

AXD安信达主要定位工业嵌入式以军工领域使用的都是高PE 值高寿命的MLC SLC闪存颗粒，不同于消费类产品的TLC闪存。