AXD/安信达-SSD固态硬盘、DOM电子盘品质控制

AXD安信达深耕经营闪存存储市场十多年，是专业工业嵌入式固态存储解决方案厂商，主要生产适用于工业级以及军工级和嵌入式的SSD固态硬盘和DOM电子硬盘,闪存CF等存储产品的供应商,拥有优异的客制化能力、严谨的制造质量与实时的技术支持，是高可靠度的最佳储存解决方案！

AXD/安信达不同于消费类的产品，使用的闪存颗粒 闪存制成杂乱无章，完全没有清晰的定位。

    我们立足于技术创新，以市场为导向，客户为核心，对于客户端的制造流程，AXD安信达更是强调一经客户验证后，即可固定韧体(Firmware)与组件，并且赋予独特的专属料号，提供稳定供货。期望通过我们的产品与服务满足不同行业客户的需求，努力为客户创造价值的宗旨。高质量、高可靠、高性能产品是我们不断创新，不断进取的追求......

AXD安信达先进的测试能力：

AXD安信达提供了深入的测试能力和标准，增强测试能力。我们丰富的检测经验使我们能够避免生产和零部件的缺陷，确保产品质量的最高水平。除了我们下面列出广泛的标准流程，AXD安信达拥有定制的测试流程，以满足特定应用需求的能力。
测试流程流程：

功能测试：我们的产品100％的制造之后功能测试。
系统级测试：我们的固态硬盘和闪存模块的100％的实际客户的主板或客户认可的主板具有相同的芯片组和安装测试，使用的是在真正的速度诊断程序进行的。系统测试是至关重要的捕捉缺陷如不能用标准试验系统中发现的ECC错误。
烧机测试

AXD安信达根据应用或客户的要求，系统级测试中的产品如上所述下Temptronic Thermalstream单位亦测试温度低至-45℃时，或者是使用一个低温烘箱长达12小时的时间进行测试在85℃的环境。
AXD安信达固态电子硬盘的测试完整的套件还包括：
温度可达筛选 - 有助于降低客户成本，并通过允许AXD安信达更换供应有限或成本较高的更广泛使用的标准部件工业部件，缩短交货时间
四角测试和其他资格等级测试，包括：焊锡质量，冲击和振动，热循环和HALT / HASS
参数规格
试验过程中老化（TDBI） 通过，而在高温下工作的捕捉短暂的异常情况
AXD安信达的工程和优质的团队已经分析了NAND模块的故障模式，并确定与存储模块使用的次优的可靠性NAND组件往往在运作初期失败。如果一个半导体失败，它通常是在它前三个月的使用。随着新的NAND FALASH推进成更小的工艺尺寸，就不可能有包含“弱”位（单个单元中的一个微缺陷）芯片更大的风险。这是不足以引起失败，但初始场操作开始后几周内可表现出单个位错误。
为了进一步消除由于“边缘”设备的任何潜在早期故障，并提高现场操作之前，SSD产品的整体可靠性，可以实现TDB。虽然大多数芯片在芯片级经受静态老化，TDBI提供了一个非常独特的，更全面的测试能力，因为它提供了在模块级24小时老化测试而动态地运行和检查测试图案作为模块胁迫条件下正在执行。由各个存储器制造商所做的研究表明，使用TDBI室可降低早期失效高达90％。

AXD安信达的功能测试
功能测试，确保产品AXD符合产品规格AXD和工业/ OEM客户的同意，而且还确保每一个产品在不同的主机环境的兼容性。 AXD功能测试包括：

性能测试：性能测试核对产品规格产品的真正性能。 AXD利用多种业界公认的基准测试软件，如HDBench，ATTO磁盘基准和CrystalDiskMark的测量输入/输出性能，读写速度验证和延迟测量。
电气测试：电气测试测量产品的电气特性，如功耗，固件验证，信号质量测量，协议兼容性和空闲电流测量。此外，DRAM产品的功能测试还包括测试，如型式试验，密度试验和ECC功能测试。
环境/机械测试：机械试验验证机械设计与主要的行业标准，如SDA，CFA，以及JEDEC整合。此外，一些环境试验的目的是确保产品可以在极端的温度，冲击和振动的情况正常。该产品在不同的操作参数，如在非常高/低的温度下进行测试，以密集的休克，或在一定的振动模式。另外，为了确保产品可以存储在一个恶劣的环境中，高温/高湿度存储测试是同时进行的。与各种环境挑战，测试，如盐水喷雾试验和紫外线照射试验，也施用。
兼容性测试：兼容性测试确保ATP产品与各种操作系统（Windows操作系统或Linux），接口命令（DDR3，SATA，USB ...等），不同的读卡器/数码相机/主板兼容。的产品，操作系统，和接口的一测试矩阵形成为寻求用户的体验期间可能发生的任何可能的问题。
证书和符合性测试：由于不同国家和地区要求产品符合各种工业或环境标准，如CE，FCC，ROHS，REACH，UL94，IP67，MIL和WHQL，AXD安信达产品经过这些测试与第三方机构。

可靠性测试
在现实生活环境中的时间间隔期间可靠性测试测量产品的功能。电子产品的故障率随着时间的推移通常被称为是“浴缸曲线”。有在下面的图表三个时区：一个）I区示出在早期阶段，这通常是由制造缺陷引起的高，但迅速减少故障率。 AXD安信达采用长小时和高温“烧机测试”剔除缺陷产品，从而显著降低在此阶段的故障。 B）II区，中间阶段，使用寿命阶段。故障在此阶段通常是由随机故障引起的。这是ATP强大的产品设计和高品质可以最大限度地减少故障率，延长了产品的使用寿命。 C）III区是“破旧期”。长工作时间和苛刻的应用环境逐渐恶化，产品的完整性。

鉴于性能可在相当长的时间周期下降，在可靠性测试的主要领域包括：环境试验（诸如在极端高/低温操作的测试，在高温/高湿度环境中的存储测试，盐水喷雾和紫外线espouser试验，冲击和振动试验...等）和电气测试（包括广泛的开/关循环测试和接触式和非接触式的EST测试）。
AXD安信达的研发团队致力于提供最高品质的产品，每个测试都经过严格的设计，保证了AXD安信达品牌

宽温（Wide Temperature）
工业级产品的极端温度的能力是在商业级产品的重要特征的好处。极高温和低温的在工作环境中的循环是用于工业应用中常见的。例如，在北美的电信基站可以位于一个气候与-30℃的冬季温度和30℃的夏天。常规商业级别的产品，额定为0℃至70℃ ，可能会导致基站的问题才能正常工作时，由于这一事实，即周围温度将低于0℃，在次。
面对令人满意的宽温度（WT）工作要求的挑战，AXD安信达利用其独特的技术，对于固态存储产品解决方案的IC级测试和系统级烧机测试的闪存解决方案，以确保产品达到并超过极端WT操作条件下，从-40°C至85°C的范围。
此外，特定应用的测试模式进行编程，在自动测试设备（ATE）针对每个客户的独特的经营准则运行。这一新的解决方案，主要用于工业DRAM模块的应用，如电信，网络，工控，自动化和坚固耐用的系统，并实现最佳的总体拥有成本（TCO）与长期系统的可靠性。
在NAND闪存产品方面，只有非常特殊闪灯IC及IC封装配置，可满足-40°C工业级工作温度范围为85°C。 AXD安信达专注于这些配置，这使得-40°C至85°C较宽的温度操作，与合理的总体拥有成本。

关于我们
   AXD安信达----中国存储专家！致力打造中国民族存储品牌！
   深圳市安信达存储技术有限公司----专业致力于数码存储技术研发、设计、制造、营销、技术服务为一体，拥有多项自主发明和专利的国家高新技术企业，是全球工业嵌入式存储产品解决方案的领导企业！
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